Անցեք բովանդակությանը
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Լեզու
EBSCO Discovery Service
Բոլոր դաշտերը
Վերնագիր
Հեղինակ
Խորագիր
Դասիչ
ISBN/ISSN
Ցուցիչ
Գտեք
Ընդլայնված
Nueva escala métrica de la int...
Վկայակոչեք սա
Գրեք սա
Էլփոստով ուղարկեք սա
Տպել
Արտահանել գրառումը
Արտահանել դեպի RefWorks
Արտահանել դեպի EndNoteWeb
Արտահանել դեպի EndNote
Մշտական հղում
Nueva escala métrica de la inteligencia (NEMI): el test o escala métrica de la inteligencia de Binet-Simon
Contiene un sobre con 10 formularios indivuduales de hojas de respuestas de nivel
Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ:
Zazzo, René
,
Gilly, M.
,
Verba-Rad, Mina
Ձևաչափ:
Գիրք
Լեզու:
Spanish
Խորագրեր:
Tests inteligencia
Inteligencia tests
Պահումներ
Նկարագրություն
Նմանատիպ նյութեր
Աշխատակազմի տեսք
Նմանատիպ նյութեր
Material impreso para las pruebas de inteligencia de la nueva revisión del método Stanford-Binet: forma L
Nueva escala métrica de la inteligencia: test de desarrollo mental para niños de 3 a 14 años.Técnica de aplicación
Test Binet-Simon
La organización en la escuela primaria: el método de la escuela primaria. Psicometría
Tests de inteligencia para niños: aplicables desde un año y seis meses hasta quince años de edad
: Valentine, C. W.