Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Ngôn ngữ
EBSCO Discovery Service
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
Nueva escala métrica de la int...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
Nueva escala métrica de la inteligencia (NEMI): el test o escala métrica de la inteligencia de Binet-Simon
Contiene un sobre con 10 formularios indivuduales de hojas de respuestas de nivel
Chi tiết về thư mục
Tác giả khác:
Zazzo, René
,
Gilly, M.
,
Verba-Rad, Mina
Định dạng:
Sách
Ngôn ngữ:
Spanish
Những chủ đề:
Tests inteligencia
Inteligencia tests
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Những quyển sách tương tự
Material impreso para las pruebas de inteligencia de la nueva revisión del método Stanford-Binet: forma L
Nueva escala métrica de la inteligencia: test de desarrollo mental para niños de 3 a 14 años.Técnica de aplicación
Test Binet-Simon
La organización en la escuela primaria: el método de la escuela primaria. Psicometría
Tests de inteligencia para niños: aplicables desde un año y seis meses hasta quince años de edad
Bằng: Valentine, C. W.