Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Idioma
EBSCO Discovery Service
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
Material impreso para las prue...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
Material impreso para las pruebas de inteligencia de la nueva revisión del método Stanford-Binet: forma L
Dades bibliogràfiques
Altres autors:
Terman, Lewis M.
(coautor)
,
Merril, Maud A.
(coautor)
Format:
Llibre
Idioma:
Spanish
Matèries:
Tests inteligencia
Inteligencia tests
Test
Tests
Test stanford binet
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
Nueva escala métrica de la inteligencia (NEMI): el test o escala métrica de la inteligencia de Binet-Simon
La organización en la escuela primaria: el método de la escuela primaria. Psicometría
Test Binet-Simon
Tests de apercepción temática (TAT): manual para la aplicación
per: Murray, Henry A. 1893-1988
Tests de inteligencia para niños: aplicables desde un año y seis meses hasta quince años de edad
per: Valentine, C. W.