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Material impreso para las pruebas de inteligencia de la nueva revisión del método Stanford-Binet: forma L
Manylion Llyfryddiaeth
Awduron Eraill:
Terman, Lewis M.
(coautor)
,
Merril, Maud A.
(coautor)
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Llyfr
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Spanish
Pynciau:
Tests inteligencia
Inteligencia tests
Test
Tests
Test stanford binet
Daliadau
Disgrifiad
Eitemau Tebyg
Dangos Staff
Eitemau Tebyg
Nueva escala métrica de la inteligencia (NEMI): el test o escala métrica de la inteligencia de Binet-Simon
La organización en la escuela primaria: el método de la escuela primaria. Psicometría
Test Binet-Simon
Tests de apercepción temática (TAT): manual para la aplicación
gan: Murray, Henry A. 1893-1988
Tests de inteligencia para niños: aplicables desde un año y seis meses hasta quince años de edad
gan: Valentine, C. W.