Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Γλώσσα
EBSCO Discovery Service
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Material impreso para las prue...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
Material impreso para las pruebas de inteligencia de la nueva revisión del método Stanford-Binet: forma L
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς:
Terman, Lewis M.
(coautor)
,
Merril, Maud A.
(coautor)
Μορφή:
Βιβλίο
Γλώσσα:
Spanish
Θέματα:
Tests inteligencia
Inteligencia tests
Test
Tests
Test stanford binet
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Nueva escala métrica de la inteligencia (NEMI): el test o escala métrica de la inteligencia de Binet-Simon
La organización en la escuela primaria: el método de la escuela primaria. Psicometría
Test Binet-Simon
Tests de apercepción temática (TAT): manual para la aplicación
ανά: Murray, Henry A. 1893-1988
Tests de inteligencia para niños: aplicables desde un año y seis meses hasta quince años de edad
ανά: Valentine, C. W.