Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
שפה
EBSCO Discovery Service
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
Material impreso para las prue...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
Permanent link
Material impreso para las pruebas de inteligencia de la nueva revisión del método Stanford-Binet: forma L
מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים:
Terman, Lewis M.
(coautor)
,
Merril, Maud A.
(coautor)
פורמט:
ספר
שפה:
Spanish
נושאים:
Tests inteligencia
Inteligencia tests
Test
Tests
Test stanford binet
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
פריטים דומים
Nueva escala métrica de la inteligencia (NEMI): el test o escala métrica de la inteligencia de Binet-Simon
La organización en la escuela primaria: el método de la escuela primaria. Psicometría
Test Binet-Simon
Tests de apercepción temática (TAT): manual para la aplicación
מאת: Murray, Henry A. 1893-1988
Tests de inteligencia para niños: aplicables desde un año y seis meses hasta quince años de edad
מאת: Valentine, C. W.