इसे छोड़कर सामग्री पर बढ़ने के लिए
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
भाषा
EBSCO Discovery Service
सभी फ़ील्ड्स
शीर्षक
लेखक
विषय
बोधानक
आईएसबीएन / आईएसएसएन
टैग
खोज
उन्नत
Material impreso para las prue...
इसे उद्धृत करें
इसका टेक्स्ट मैसेज भेजे
इसे ईमेल करें
प्रिंट
निर्यात रिकॉर्ड
को निर्यात RefWorks
को निर्यात EndNoteWeb
को निर्यात EndNote
स्थायी लिंक
Material impreso para las pruebas de inteligencia de la nueva revisión del método Stanford-Binet: forma L
ग्रंथसूची विवरण
अन्य लेखक:
Terman, Lewis M.
(coautor)
,
Merril, Maud A.
(coautor)
स्वरूप:
पुस्तक
भाषा:
Spanish
विषय:
Tests inteligencia
Inteligencia tests
Test
Tests
Test stanford binet
होल्डिंग्स
विवरण
समान संसाधन
स्टाफ के लिए
समान संसाधन
Nueva escala métrica de la inteligencia (NEMI): el test o escala métrica de la inteligencia de Binet-Simon
La organización en la escuela primaria: el método de la escuela primaria. Psicometría
Test Binet-Simon
Tests de apercepción temática (TAT): manual para la aplicación
द्वारा: Murray, Henry A. 1893-1988
Tests de inteligencia para niños: aplicables desde un año y seis meses hasta quince años de edad
द्वारा: Valentine, C. W.