コンテンツを見る
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
言語
EBSCO Discovery Service
全フィールド
タイトル
著者
主題
請求記号
ISBN/ISSN
タグ
検索
詳細検索
Material impreso para las prue...
この資料を引用
この資料をSMS送信
この資料をメール
印刷
エクスポート
エクスポート先: RefWorks
エクスポート先: EndNoteWeb
エクスポート先: EndNote
パーマネントリンク
Material impreso para las pruebas de inteligencia de la nueva revisión del método Stanford-Binet: forma L
書誌詳細
その他の著者:
Terman, Lewis M.
(coautor)
,
Merril, Maud A.
(coautor)
フォーマット:
図書
言語:
Spanish
主題:
Tests inteligencia
Inteligencia tests
Test
Tests
Test stanford binet
所蔵
その他の書誌記述
類似資料
MARC表示
類似資料
Nueva escala métrica de la inteligencia (NEMI): el test o escala métrica de la inteligencia de Binet-Simon
La organización en la escuela primaria: el método de la escuela primaria. Psicometría
Test Binet-Simon
Tests de apercepción temática (TAT): manual para la aplicación
著者:: Murray, Henry A. 1893-1988
Tests de inteligencia para niños: aplicables desde un año y seis meses hasta quince años de edad
著者:: Valentine, C. W.