Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Idioma
EBSCO Discovery Service
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
Test Binet-Simon
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
Test Binet-Simon
Dades bibliogràfiques
Altres autors:
Zazzo, René
,
Gilly, Michel
,
Verba-Rad, Mina
Format:
Llibre
Idioma:
Spanish
Matèries:
Inteligencia escala metrica
Tests inteligencia
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
Nueva escala métrica de la inteligencia: test de desarrollo mental para niños de 3 a 14 años.Técnica de aplicación
Nueva escala métrica de la inteligencia: test de desarrollo mental para niños de 3 a 14 años. Principios de construcción y de empleo
Nueva escala métrica de la inteligencia (NEMI): el test o escala métrica de la inteligencia de Binet-Simon
Material impreso para las pruebas de inteligencia de la nueva revisión del método Stanford-Binet: forma L
La organización en la escuela primaria: el método de la escuela primaria. Psicometría