Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Γλώσσα
EBSCO Discovery Service
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Test Binet-Simon
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
Test Binet-Simon
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς:
Zazzo, René
,
Gilly, Michel
,
Verba-Rad, Mina
Μορφή:
Βιβλίο
Γλώσσα:
Spanish
Θέματα:
Inteligencia escala metrica
Tests inteligencia
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Nueva escala métrica de la inteligencia: test de desarrollo mental para niños de 3 a 14 años.Técnica de aplicación
Nueva escala métrica de la inteligencia: test de desarrollo mental para niños de 3 a 14 años. Principios de construcción y de empleo
Nueva escala métrica de la inteligencia (NEMI): el test o escala métrica de la inteligencia de Binet-Simon
Material impreso para las pruebas de inteligencia de la nueva revisión del método Stanford-Binet: forma L
La organización en la escuela primaria: el método de la escuela primaria. Psicometría