Terman, L. M. (1927). Medición de la inteligencia: Exposición y guía para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la escala de Binet y Simón (Primera edición.). Imprenta Nacional.

Terman, Lewis M. Medición De La Inteligencia: Exposición Y Guía Para El Uso De La Revisión Y Extensión De Stanford De La Escala De Binet Y Simón. Primera edición. Panamá: Imprenta Nacional, 1927.

Terman, Lewis M. Medición De La Inteligencia: Exposición Y Guía Para El Uso De La Revisión Y Extensión De Stanford De La Escala De Binet Y Simón. Primera edición. Imprenta Nacional, 1927.