Medición de la inteligencia: exposición y guía para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la escala de Binet y Simón /

Medición de la inteligencia: exposición y guía para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la escala de Binet y Simón /

Bibliographic Details
Main Author: Terman, Lewis M. (autor)
Format: Book
Language:Spanish
Published: Panamá: Imprenta Nacional, 1927.
Edition:Primera edición
Subjects:
Inteligencia
Inteligencia > tests
Psicología
Online Access:http://nas.ucuenca.edu.ec/BibliotecaDigital/ebooks/librosyrev/9610.pdf

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