Medición de la inteligencia: exposición y guía para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la escala de Binet y Simón /

Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Terman, Lewis M. (autor)
Format: Bog
Sprog:Spanish
Udgivet: Panamá: Imprenta Nacional, 1927.
Udgivelse:Primera edición
Fag:
Online adgang:http://nas.ucuenca.edu.ec/BibliotecaDigital/ebooks/librosyrev/9610.pdf
Indholdsfortegnelse:
  • Empleo de los tests de inteligencia
  • Causas de error de la apreciación de la inteligencia
  • Descripción del método de Binet y Simon
  • Naturaleza y extensión de la revisión de Stanford
  • Instrucciones generales.