Medición de la inteligencia: exposición y guía para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la escala de Binet y Simón /
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Spanish |
| Veröffentlicht: |
Panamá:
Imprenta Nacional,
1927.
|
| Ausgabe: | Primera edición |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | http://nas.ucuenca.edu.ec/BibliotecaDigital/ebooks/librosyrev/9610.pdf |
Inhaltsangabe:
- Empleo de los tests de inteligencia
- Causas de error de la apreciación de la inteligencia
- Descripción del método de Binet y Simon
- Naturaleza y extensión de la revisión de Stanford
- Instrucciones generales.