Medición de la inteligencia: exposición y guía para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la escala de Binet y Simón /
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | Spanish |
| Έκδοση: |
Panamá:
Imprenta Nacional,
1927.
|
| Έκδοση: | Primera edición |
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://nas.ucuenca.edu.ec/BibliotecaDigital/ebooks/librosyrev/9610.pdf |
Πίνακας περιεχομένων:
- Empleo de los tests de inteligencia
- Causas de error de la apreciación de la inteligencia
- Descripción del método de Binet y Simon
- Naturaleza y extensión de la revisión de Stanford
- Instrucciones generales.