Medición de la inteligencia: exposición y guía para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la escala de Binet y Simón /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Terman, Lewis M. (autor)
Formato: Libro
Lenguaje:Spanish
Publicado: Panamá: Imprenta Nacional, 1927.
Edición:Primera edición
Materias:
Acceso en línea:http://nas.ucuenca.edu.ec/BibliotecaDigital/ebooks/librosyrev/9610.pdf
Tabla de Contenidos:
  • Empleo de los tests de inteligencia
  • Causas de error de la apreciación de la inteligencia
  • Descripción del método de Binet y Simon
  • Naturaleza y extensión de la revisión de Stanford
  • Instrucciones generales.