Medición de la inteligencia: exposición y guía para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la escala de Binet y Simón /
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | ספר |
| שפה: | Spanish |
| יצא לאור: |
Panamá:
Imprenta Nacional,
1927.
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| מהדורה: | Primera edición |
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | http://nas.ucuenca.edu.ec/BibliotecaDigital/ebooks/librosyrev/9610.pdf |
תוכן הענינים:
- Empleo de los tests de inteligencia
- Causas de error de la apreciación de la inteligencia
- Descripción del método de Binet y Simon
- Naturaleza y extensión de la revisión de Stanford
- Instrucciones generales.