Medición de la inteligencia: exposición y guía para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la escala de Binet y Simón /
| 第一著者: | |
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| フォーマット: | 図書 |
| 言語: | Spanish |
| 出版事項: |
Panamá:
Imprenta Nacional,
1927.
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| 版: | Primera edición |
| 主題: | |
| オンライン･アクセス: | http://nas.ucuenca.edu.ec/BibliotecaDigital/ebooks/librosyrev/9610.pdf |
目次:
- Empleo de los tests de inteligencia
- Causas de error de la apreciación de la inteligencia
- Descripción del método de Binet y Simon
- Naturaleza y extensión de la revisión de Stanford
- Instrucciones generales.