Medición de la inteligencia: exposición y guía para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la escala de Binet y Simón /
| 主要作者: | |
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| 格式: | 圖書 |
| 語言: | Spanish |
| 出版: |
Panamá:
Imprenta Nacional,
1927.
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| 版: | Primera edición |
| 主題: | |
| 在線閱讀: | http://nas.ucuenca.edu.ec/BibliotecaDigital/ebooks/librosyrev/9610.pdf |
書本目錄:
- Empleo de los tests de inteligencia
- Causas de error de la apreciación de la inteligencia
- Descripción del método de Binet y Simon
- Naturaleza y extensión de la revisión de Stanford
- Instrucciones generales.