Medición de la inteligencia: exposición y guía para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la escala de Binet y Simón /

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Terman, Lewis M. (autor)
פורמט: ספר
שפה:Spanish
יצא לאור: Panamá: Imprenta Nacional, 1927.
מהדורה:Primera edición
נושאים:
גישה מקוונת:http://nas.ucuenca.edu.ec/BibliotecaDigital/ebooks/librosyrev/9610.pdf