Preskoči na sadržaj
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
  • EBSCO Discovery Service
Napredno
  • Nueva escala métrica de la int...
  • Citiraj ovo
  • Pošalji tekstualnu poruku
  • Pošalji ovo e-poštom
  • Ispiši
  • Izvezi zapis
    • Izvezi u RefWorks
    • Izvezi u EndNoteWeb
    • Izvezi u EndNote
  • Stalna poveznica
Nueva escala métrica de la inteligencia (NEMI): el test o escala métrica de la inteligencia de Binet-Simon

Nueva escala métrica de la inteligencia (NEMI): el test o escala métrica de la inteligencia de Binet-Simon

Contiene un sobre con 10 formularios indivuduales de hojas de respuestas de nivel

Bibliografski detalji
Daljnji autori: Zazzo, René, Gilly, M., Verba-Rad, Mina
Format: Knjiga
Jezik:Spanish
Teme:
Tests inteligencia
Inteligencia tests
  • Primjerci
  • Opis
  • Slična djela
  • Prikaz za djelatnike knjižnice

Slična djela

  • Material impreso para las pruebas de inteligencia de la nueva revisión del método Stanford-Binet: forma L
  • Nueva escala métrica de la inteligencia: test de desarrollo mental para niños de 3 a 14 años.Técnica de aplicación
  • Test Binet-Simon
  • La organización en la escuela primaria: el método de la escuela primaria. Psicometría
  • Tests de inteligencia para niños: aplicables desde un año y seis meses hasta quince años de edad
    od: Valentine, C. W.

Opcije za pretraživanje

  • Povijest pretraživanja
  • Napredno pretraživanje

Nađi još

  • Pregledaj katalog

Trebaš pomoć?

  • Savjeti za pretraživanje
  • Upitaj knjižničara
  • Često postavljena pitanja