Przejdź do treści
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
  • EBSCO Discovery Service
Wyszukiwanie zaawansowane
  • Test Binet-Simon
  • Cytować
  • Wyślij wiadomość
  • Wyślij emailem
  • Drukuj
  • Eksportuj rekord
    • Eksportuj do RefWorks
    • Eksportuj do EndNoteWeb
    • Eksportuj do EndNote
  • Odnośnik bezpośredni
Test Binet-Simon

Test Binet-Simon

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Zazzo, René, Gilly, Michel, Verba-Rad, Mina
Format: Książka
Język:Spanish
Hasła przedmiotowe:
Inteligencia escala metrica
Tests inteligencia
  • Egzemplarz
  • Opis
  • Podobne zapisy
  • Wersja MARC

Podobne zapisy

  • Nueva escala métrica de la inteligencia: test de desarrollo mental para niños de 3 a 14 años.Técnica de aplicación
  • Nueva escala métrica de la inteligencia: test de desarrollo mental para niños de 3 a 14 años. Principios de construcción y de empleo
  • Nueva escala métrica de la inteligencia (NEMI): el test o escala métrica de la inteligencia de Binet-Simon
  • Material impreso para las pruebas de inteligencia de la nueva revisión del método Stanford-Binet: forma L
  • La organización en la escuela primaria: el método de la escuela primaria. Psicometría

Opcje wyszukiwania

  • Historia wyszukiwania
  • Wyszukiwanie zaawansowane

Dalsze opcje

  • Przeglądaj katalog

Pomoc

  • Wskazówka do wyszukiwania
  • Zapytaj bibliotekarza
  • Często zadawane pytania