コンテンツを見る
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
  • EBSCO Discovery Service
詳細検索
  • La inteligencia medida por tes...
  • この資料を引用
  • この資料をSMS送信
  • この資料をメール
  • 印刷
  • エクスポート
    • エクスポート先: RefWorks
    • エクスポート先: EndNoteWeb
    • エクスポート先: EndNote
  • パーマネントリンク
La inteligencia medida por test y rendimiento escolar

La inteligencia medida por test y rendimiento escolar

他のバージョン(1件)を表示する
書誌詳細
その他の著者: Narváez E., Elina (coautora), Córdova R., Magdalena (coautora)
フォーマット: 学位論文 図書
言語:Spanish
主題:
Inteligencia tests
Test inteligencia
Tesis en ciencias de la educacion
  • 所蔵
  • その他の書誌記述
  • 他のバージョン (1)
  • 類似資料
  • MARC表示

類似資料

  • Nueva escala métrica de la inteligencia (NEMI): el test o escala métrica de la inteligencia de Binet-Simon
  • La inteligencia medida por test y rendimiento escolar
    著者:: Narváez E., Elina, 等
    出版事項: (2014)
  • Nueva escala métrica de la inteligencia: test de desarrollo mental para niños de 3 a 14 años. Principios de construcción y de empleo
  • Tests de inteligencia para niños: aplicables desde un año y seis meses hasta quince años de edad
    著者:: Valentine, C. W.
  • Material impreso para las pruebas de inteligencia de la nueva revisión del método Stanford-Binet: forma L

検索オプション

  • 検索履歴
  • 詳細検索

その他の検索

  • 目録のブラウズ

ヘルプ

  • 検索方法
  • 図書館員に聞く
  • FAQ