Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Ngôn ngữ
EBSCO Discovery Service
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
La inteligencia medida por tes...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
La inteligencia medida por test y rendimiento escolar
Hiển thị phiên bản (1) khác
Chi tiết về thư mục
Tác giả khác:
Narváez E., Elina
(coautora)
,
Córdova R., Magdalena
(coautora)
Định dạng:
Luận văn
Sách
Ngôn ngữ:
Spanish
Những chủ đề:
Inteligencia tests
Test inteligencia
Tesis en ciencias de la educacion
Đang giữ
Miêu tả
Phiên bản (1) khác
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Những quyển sách tương tự
Nueva escala métrica de la inteligencia (NEMI): el test o escala métrica de la inteligencia de Binet-Simon
La inteligencia medida por test y rendimiento escolar
Bằng: Narváez E., Elina, et al.
Được phát hành: (2014)
Nueva escala métrica de la inteligencia: test de desarrollo mental para niños de 3 a 14 años. Principios de construcción y de empleo
Tests de inteligencia para niños: aplicables desde un año y seis meses hasta quince años de edad
Bằng: Valentine, C. W.
Material impreso para las pruebas de inteligencia de la nueva revisión del método Stanford-Binet: forma L